Conception de structure de test pour l'étude de la fiabilité des composants MOS.
| dc.contributor.author | Belharet Ali | |
| dc.contributor.other | Goudjil Mohamed | |
| dc.date.accessioned | 2019-11-12T12:58:35Z | |
| dc.date.available | 2019-11-12T12:58:35Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.description | 50 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom) | en |
| dc.description.abstract | Mon thème s’intitule conception d’une structure de test pour l’étude de la fiabilité des composants MOS. Ainsi les structure de test leur rôle consiste a vérifié les étapes de fabrication. J’ai utilisé layout editor pour ma conception et j’ai suivis les règles de dessins de 1.2 micromètres. | en |
| dc.identifier.citation | Génie Microélectronique | |
| dc.identifier.other | MAST.AUTO.37-14 | en |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ummto.dz/handle/ummto/7390 | |
| dc.language.iso | fr | en |
| dc.publisher | Université Mouloud Mammeri | en |
| dc.subject | MOS | en |
| dc.title | Conception de structure de test pour l'étude de la fiabilité des composants MOS. | en |
| dc.type | Thesis | en |