Conception de structure de test pour l'étude de la fiabilité des composants MOS.
Loading...
Date
2014
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Université Mouloud Mammeri
Abstract
Mon thème s’intitule conception d’une structure de test pour l’étude de la fiabilité des composants MOS. Ainsi les structure de test leur rôle consiste a vérifié les étapes de fabrication. J’ai utilisé layout editor pour ma conception et j’ai suivis les règles de dessins de 1.2 micromètres.
Description
50 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)
Keywords
MOS
Citation
Génie Microélectronique