Automatisation d’un banc de caractérisation sur traceur de courbe programmable Tektronix 370A

dc.contributor.authorAmrani Nassim
dc.contributor.otherLakhlef Ahcene
dc.date.accessioned2019-11-12T12:58:20Z
dc.date.available2019-11-12T12:58:20Z
dc.date.issued2014
dc.description71 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)en
dc.description.abstractRésumé : La recherche des nouvelles performances des semiconducteurs et des nouveaux dispositifs pour une bonne fiabilité, et remplacer le silicium et le MOSFET au silicium va conduire à une nouvelle révolution au sein des industries électronique. La caractérisation des composants électronique est d’une importance capitale pour le développement de l’industrie électronique en général et micro-électronique en particulier. Les objectifs attendus de cette caractérisation sont l’extraction des différentes paramètres afin de comprendre les propriétés électriques et physiques des dispositifs, par l’interprétation d’un bon fonctionnement et de prévoir une long durée de vie. Elle agie sur le développement de la technologie de fabrication, par le bais de développement des outils de modalisation pour une implantation dans les simulateurs. C’est dans ce contexte que se situe ce travail de thèse qui présente la mise en évidence d’une technique de caractérisation statique des MOSFETs en utilisant les techniques I(V) avancées, selon la conception de l’instrument de caractérisation. L’objectif est de contribuer au développement d’un programme sous LabView contrôlant automatiquement le traceur de courbe programmable Tektronix 370A, à travers une communication GPIB. En fin, La réalisation du programme nos a permis d'acquérir une expérience dans le domaine des communications GPIB et la programmation sous labView. En perspective la mise au point d’un banc de caractérisation des MOSFET, nous permettra de mieux cerner les paramètres contrôlant la fiabilité et la sensibilité des composants micros et nanoélectroniques, cela pour bien conduire les nouvelles révolutions de la micro et nanotechnologies.en
dc.identifier.citationGénie Microélectronique
dc.identifier.otherMAST.AUTO.34-14en
dc.identifier.urihttps://dspace.ummto.dz/handle/ummto/7368
dc.language.isofren
dc.publisherUniversité Mouloud Mammerien
dc.subjectMOSFETen
dc.subjectComposant unipolaireen
dc.subjectMiniaturisationen
dc.subjectPompage de chargeen
dc.subjectTektronixen
dc.subject370Aen
dc.subjectLabViewen
dc.subjectCaractérisation.en
dc.titleAutomatisation d’un banc de caractérisation sur traceur de courbe programmable Tektronix 370Aen
dc.typeThesisen

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