Etude de la modélisation et de la simulation phénomènes de compatibilité électromagnétique des circuits intégrés
| dc.contributor.author | Kader Amar | |
| dc.contributor.author | Hassaine Mohammed | |
| dc.contributor.other | Kanane Hocine | |
| dc.date.accessioned | 2019-11-26T11:57:04Z | |
| dc.date.available | 2019-11-26T11:57:04Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.description | 91 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom) | en |
| dc.description.abstract | La compatibilité électromagnétique des circuits intégrés étant devenue incontournable ces dernières années, la modélisation des circuits en vu de leur simulation du point de vu de l’émission et de l’immunité vi sa vi des perturbations RF est primordiale. Les modèle ICEM et IBIS ont étés mis au point dans ce but, ICEM intégrant le modèle du cœur et IBIS celui des entrées/sorties. Le modèle de susceptibilité ICIM est lui dérivé du modèle ICEM et dédier a l’extraction des niveaux de susceptibilité des circuits par simulation. Enfin, le logiciel IC-EMC qui est un simulateur de ces différents phénomènes se basant sur ces différents modèles nous permet de réalisé une panoplie de simulation, entre autre l’émission, le balayage du champ proche et la susceptibilité des CI. | en |
| dc.identifier.citation | Communication | |
| dc.identifier.other | ING.ELN.14-10 | en |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ummto.dz/handle/ummto/8247 | |
| dc.language.iso | fr | en |
| dc.publisher | Université Mouloud Mammeri | en |
| dc.subject | Circuits intégrées | en |
| dc.subject | Compatibilité électromagnétique | en |
| dc.subject | Modélisation | en |
| dc.subject | Simulation | en |
| dc.subject | CEM | en |
| dc.subject | IEEMC | en |
| dc.subject | IBIS | en |
| dc.subject | SSN | en |
| dc.subject | DPI | en |
| dc.subject | IMIC. | en |
| dc.title | Etude de la modélisation et de la simulation phénomènes de compatibilité électromagnétique des circuits intégrés | en |
| dc.type | Thesis | en |