Simulation de dopage par implantation ionique du Germanium

dc.contributor.authorKaci, Amar
dc.date.accessioned2024-11-04T13:14:25Z
dc.date.available2024-11-04T13:14:25Z
dc.date.issued2021
dc.description39 f. : ill. ; 30 cm
dc.description.abstractDans ce présent travail, nous étudions l'implantation des ions d'Azote, du phosphore et d'Arsenic dans une cible de Germanium par le logiciel SRIM (Stopping and Range of Ions In Matter). Notre objectif consiste à étudier les différents phénomènes liés à l'implantation ionique ainsi qu'à l'interaction ion-matière. Pour cela, nous avons déterminé les profils de distribution des ions implantés, le pouvoir d'arrêt, et évalué les dommages créés à l'intérieur de la cible. Nous nous intéressons aussi à l'effet de l'énergie et la nature des ions incidents
dc.identifier.citationNanophysique
dc.identifier.urihttps://dspace.ummto.dz/handle/ummto/25167
dc.language.isofr
dc.publisherUMMTO
dc.subjectAzote
dc.subjectPhosphore
dc.subjectGermanium
dc.subjectImplantation ionique
dc.titleSimulation de dopage par implantation ionique du Germanium
dc.typeThesis

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