Identification de microstructure des pièges dans les dispositifs MOS par la spectroscopie paramagnétique de spin

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dc.contributor.authorOubraham Sofiane
dc.contributor.authorBrachemi Ali
dc.contributor.otherZirmi Rachid
dc.date.accessioned2019-11-12T10:59:18Z
dc.date.available2019-11-12T10:59:18Z
dc.date.issued2018
dc.description79 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)en
dc.description.abstractCes dernières décennies, l’industrie micro-électronique a réalisé d’énormes progrès, tout les composants ont subit des profondes modifications pour répondre aux besoins des utilisateurs quotidienne, à utiliser des dispositifs de taille réduite et consommant moins d’énergie. Nous avons alors assistés à une évolution de la technologie CMOS et une course vers la miniaturisation des circuits intégrés et par conséquent le transistor MOS (MOSFET). Cette réduction d’échelle consiste à réduire la structure physique du transistor MOSFET en générale et les zones actives en particulier, l’une des principales conséquences est la réduction de l’oxyde de grille des MOSFET (un paramètre primordial dans le fonctionnement du composant), cela peut induire a l’apparition de certains défauts localisés dans l’oxyde et l’interface oxyde/silicium qui causent la dégradation des composants d’avantage (due à augmentation de champ électrique par la réduction de l’épaisseur de l’oxyde de grille).en
dc.identifier.citationMicro- Electronique
dc.identifier.otherMAST.ELN.71-18en
dc.identifier.urihttps://dspace.ummto.dz/handle/ummto/6604
dc.language.isofren
dc.publisherUniversité Mouloud Mammerien
dc.subjectSpectroscopieen
dc.subjectParamagnétiqueen
dc.subjectCDTAen
dc.subjectSpinen
dc.subjectTransistoren
dc.subjectMOSen
dc.subjectCMOSen
dc.subjectInterface Si/SiO2en
dc.subjectSpectromètreen
dc.subjectMOSFETen
dc.subjectPont Hen
dc.subjectCircuit impriméen
dc.subjectInterface de LABVIEWen
dc.subjectChamp magnétiqueen
dc.subjectAmplificateur.en
dc.titleIdentification de microstructure des pièges dans les dispositifs MOS par la spectroscopie paramagnétique de spinen
dc.typeThesisen

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