Banc de mesure de bruit basse fréquence et des caractéristiques en I (V) d'un transistor Mosfet
| dc.contributor.author | Attal Ferhat | |
| dc.contributor.author | Azdaou Zineb | |
| dc.contributor.other | Achour Hakim | |
| dc.date.accessioned | 2019-11-26T11:55:36Z | |
| dc.date.available | 2019-11-26T11:55:36Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.description | 51 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom) | en |
| dc.description.abstract | Notre travail présente un nouveau banc de mesure du bruit basse fréquence et caractéristiques en I(V) d’un transistor MOSFET, qu’on a puisé d’un système déjà existant à l’université de CAEN en France seulement leur banc de mesure repose sur des appareil de mesure du bruit et caractéristiques trop chère comme l’analyseur de spectre basse fréquence pour le calcule de la DSP et pour le tracé des caractéristiques, ils utilisent le HP4155. Pour pouvoir disposer de ce banc de mesure, nous avons remplacé ces appareils trop chers par une électronique pas chère qui se réduit à un simple PC (PIII) et une carte d’acquisition qui est la DS1102 de dSPACE commandé par cet ordinateur à l’aide de logiciels appropriés ControlDesk et MATLAB version 5.3. Grace à MATLAB/SIMULINK et la librairie RTI nous pouvons connecter le model SIMULINK au matériel physique qui est la carte DS1102.ControDesk lui nous permet de visualiser la variable du système grâce aux instruments virtuels dont il dispose et la sauvegarder Pour faire le tracé des caractéristiques, nous avons fait appelle à un programme sous MATLAB qui est chargé de calculer la moyenne des signaux acquis puis nous trace la courbe des caractéristique du courant en fonction de la tension Vg que nous avons fait varié dans la plage 0 à2V(Vd constante). Pour avoir le spectre de puissance du signal bruit on fait appelle à un autre programme MATLAB pour le calcul de la densité spectral de puissance, et nous donne le tracé fréquentiel de ce signal. Les allures des résultats obtenus en été comparé à d’autre prélevés d’un banc de mesure certifié. Pour pouvoir valider notre système, il nous faut disposer des échantillons avec leurs résultats obtenus depuis des systèmes certifiés. | en |
| dc.identifier.citation | Controle | |
| dc.identifier.other | ING.ELN.57-10 | en |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ummto.dz/handle/ummto/8153 | |
| dc.language.iso | fr | en |
| dc.publisher | Université Mouloud Mammeri | en |
| dc.subject | Bruit basse frequence | en |
| dc.subject | Transistor MOSFET | en |
| dc.subject | DSPACE | en |
| dc.subject | DSM02. | en |
| dc.title | Banc de mesure de bruit basse fréquence et des caractéristiques en I (V) d'un transistor Mosfet | en |
| dc.type | Thesis | en |