DSpace UMMTO : Browsing by Author "Maouchi Abdelkarim"

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Etude des méthode de mesure en compatibilité électromagnétique des circuits intégrés
(Université Mouloud Mammeri, 2010) Maouchi Abdelkarim; Kanane Hocine
La complexité exponentiellement croissante des circuits intégrés et la hausse de leurs fréquences de fonctionnement sont à l’origine de l’augmentation des émissions. La diminution des tensions d’alimentation a conduit à une vulnérabilité supérieure des composants aux agressions électromagnétiques. Dans le premiers chapitre, nous ferons un rappel sur le fonctionnement des transistors MOS et l’inverseur CMOS ensuite nous allons présenter le rôle majeur des circuits intégrés dans les émissions électromagnétiques on prendra l’inverseur CMOS comme exemple étant la composante des circuits logiques et on citera les principales sources de perturbations environnantes. Dans le deuxième chapitre nous présenterons les mesures normalisés de l’émission conduites et rayonnées nous essayerons de donner les différentes façons de caractériser l’émission d’un circuit intégrés. Dans le troisième chapitre nous présenterons les méthodes de mesure de l’immunité des circuits intégrés qui consiste à donner le seuil de la susceptibilité des circuits intégrés.