Méthodes de mesure en compatibilité électromagnétique des circuits intégrés

Addour RedouaneDrouiche LounesKanane Hocine2019-11-262019-11-262009CommunicationING.ELN.26-09https://dspace.ummto.dz/handle/ummto/828475 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)frCircuits intégrésTransistorOnde électromagnétiqueTechnologie CMOSCompatibilité électromagnétique.Méthodes de mesure en compatibilité électromagnétique des circuits intégrésThesis