Conception et réalisation d'une commande PID pour phénoménes NBTI
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Date
2011
Authors
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Publisher
Université Mouloud Mammeri
Abstract
C’est dans ce contexte que s’inscrit ce mémoire qui consiste en la conception et la réalisation d’un dispositif permettant l’accélération du vieillissement des transistors MOS (MOSFETs) encapsulés par phénomène NBTI. Dans le premier chapitre nous allons commencer par rappeler les principales caractéristiques physiques et électriques de la structure MOS et ses différents modes de fonctionnement. Une brève présentation du diélectrique de grille (SiO2) sera faite. Le deuxième chapitre sera une introduction à la fiabilité du transistor MOS, un historique retracera les origines du NBTI ainsi que son évolution au fil des technologies. Les principaux effets du NBTI sur les paramètres électriques seront exposés. Nous définirons la fiabilité, la durée de vie et la nécessité de l’accélérer le vieillissement. L’accélération du vieillissement par la température nécessite un dispositif chauffant et sa conception fera l’objet du dernier chapitre. En se basant sur une partie de l’outil pédagogique et pratique abordés tout au long du cursus de formation en ingéniorat nous allons mettre au point une commande PID numérique pour piloter notre enceinte thermique (plaque chauffante). Enfin, nous terminerons notre travail par une conclusion et quelques perspectives
Description
74 f. : ill. ; 30 cm. (+ CD-Rom)
Keywords
MOS, MOSFET, NBTI, PID, PIC 18f4550, Lab view
Citation
Instrumentation